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-115射流高低溫沖擊測試機 制冷循環(huán)?機組

簡要描述:【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,?泛應(yīng)?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。-115射流高低溫沖擊測試機 制冷循環(huán)?機組

  • 產(chǎn)品型號:LTS-202
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-01-11
  • 訪  問  量:498
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞冷卻方式水冷式
價格區(qū)間10萬-50萬產(chǎn)地類別國產(chǎn)
儀器種類一體式應(yīng)用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車



無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導體控溫解決方案

主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,

?泛應(yīng)?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。




【 冠亞制冷 】半導體行業(yè)主營控溫產(chǎn)品:

半導體專溫控設(shè)備

射流式?低溫沖擊測試機

半導體專用溫控設(shè)備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)

Chiller直冷型

循環(huán)風控溫裝置

半導體?低溫測試設(shè)備

電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試冷熱源

射流式高低溫沖擊測試機

快速溫變控溫卡盤

數(shù)據(jù)中心液冷解決方案


型號FLT-002FLT-003FLT-004FLT-006FLT-008FLT-010FLT-015
FLT-002WFLT-003WFLT-004WFLT-006WFLT-008WFLT-010WFLT-015W
溫度范圍5℃~40℃
控溫精度±0.1℃
流量控制  10~25L/min  5bar max15~45L/min  6bar max25~75L/min  6bar max
制冷量at10℃6kw8kw10kw15 kw20kw25kw40kw
內(nèi)循環(huán)液容積4L5L6L8L10L12L20L
膨脹罐容積10L10L15L15L20L25L35L
制冷劑R410A
載冷劑硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等  (DI溫度需要控制10℃以上)
進出接口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG3/4ZG3/4ZG1ZG1
冷卻水口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG1ZG1ZG1ZG1 1/8
冷卻水流量at20℃1.5m3/h2m3/h2.5m3/h4m3/h4.5m3/h5.6m3/h9m3/h
電源380V3.5kW4kW5.5kW7kW9.5kW12kW16kW
溫度擴展通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃





-115射流高低溫沖擊測試機 制冷循環(huán)?機組

-115射流高低溫沖擊測試機 制冷循環(huán)?機組


射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。

溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率?常快速,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;

實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,實時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控,程序化操作、?動操作、遠程控制


  光模塊高低溫測試設(shè)備是用于測試半導體芯片在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性的重要設(shè)備,為了確保測試結(jié)果的準確性和設(shè)備的長期使用,需要進行定期的維護保養(yǎng)。下面將介紹光模塊高低溫測試設(shè)備的維護保養(yǎng)知識。

  1、設(shè)備外觀檢查

  定期檢查光模塊高低溫測試設(shè)備的外觀,包括機器外殼、控制面板、電源線、電纜等。如有發(fā)現(xiàn)損壞或異常,應(yīng)及時維修或更換。

  2、設(shè)備內(nèi)部清潔

  清潔光模塊高低溫測試設(shè)備內(nèi)部是維護保養(yǎng)的重要步驟。使用干燥的壓縮空氣或無塵布清潔設(shè)備內(nèi)部,特別是冷凝器、散熱器、電氣部件等部位。確保設(shè)備內(nèi)部沒有灰塵和污垢,以保證設(shè)備的散熱效果和電氣性能。

  7、記錄和維護記錄

  對光模塊高低溫測試設(shè)備每次維護保養(yǎng)進行記錄,包括檢查的項目、發(fā)現(xiàn)的問題、采取的措施等。保持記錄的完整性和準確性,以便追蹤和管理設(shè)備的維護歷史。

  總之,光模塊高低溫測試設(shè)備的維護保養(yǎng)是確保設(shè)備正常運行和使用壽命的節(jié),通過定期檢查、清潔、維修和記錄等方法,可以有效地提升設(shè)備的性能和可靠性,降低故障率,從而為半導體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的測試保障。



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