簡要描述:【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。-100復疊制冷Chiller 集成電路高低溫測試
品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
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價格區(qū)間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業(yè),電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半導體專溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
溫度范圍 | 5℃~40℃ | ||||||
控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
流量控制 | 10~25L/min 5bar max | 15~45L/min 6bar max | 25~75L/min 6bar max | ||||
制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
內循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
制冷劑 | R410A | ||||||
載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 (DI溫度需要控制10℃以上) | ||||||
進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
溫度擴展 | 通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃ |
-100復疊制冷Chiller 集成電路高低溫測試
-100復疊制冷Chiller 集成電路高低溫測試
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率?常快速,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;
實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,實時調整?體溫度升降溫時間可控,程序化操作、?動操作、遠程控制
測試條件:環(huán)境溫度20℃,30m3/h,5Bar,壓縮空?或氮?可定制100m3/h?體流量快速沖擊測試機,?于滿?較?測試功率需求
制冷加熱控溫系統(tǒng)HR/HRT系列是一種用于控制反應釜內的溫度和壓力,以確保化學反應的穩(wěn)定進行。本文將詳細介紹制冷加熱控溫系統(tǒng)HR/HRT系列的使用注意事項,幫助用戶更好地操作和維護該系統(tǒng)。
一、了解系統(tǒng)參數(shù)及安全注意事項
在使用制冷加熱控溫系統(tǒng)HR/HRT系列前,務必了解系統(tǒng)的壓力、溫度等參數(shù)以及安全注意事項。根據(jù)實際需求,用戶需要設定相應的溫度和壓力控制值,同時要關注系統(tǒng)的承受壓力和溫度范圍,避免超限操作。
二、定期檢查、維護保養(yǎng),保持系統(tǒng)良好運行狀態(tài)
為了使制冷加熱控溫系統(tǒng)HR/HRT系列始終處于良好的運行狀態(tài),用戶需要定期對其進行檢查和保養(yǎng)。具體包括以下幾個方面: