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-85℃- 250℃納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)

簡(jiǎn)要描述:-85℃- 250℃納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)的典型應(yīng)用:
適合元器件測(cè)試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。

  • 產(chǎn)品型號(hào):TES-8555W
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-01-03
  • 訪  問(wèn)  量:846
詳情介紹
品牌LNEYA/無(wú)錫冠亞產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源,電子,汽車,電氣

 元器件測(cè)試用設(shè)備

 

適合元器件測(cè)試用設(shè)備

在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。

 

元器件測(cè)試用設(shè)備

 

無(wú)錫冠亞積探索和研究元件測(cè)試系統(tǒng),主要用于半導(dǎo)體測(cè)試中的溫度測(cè)試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,適合各種測(cè)試要求,解決了電子元器件中溫度控制滯后的問(wèn)題,超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。該產(chǎn)品適用于電子元器件的精確溫度控制需求。

 

無(wú)錫冠亞元器件高低溫測(cè)試機(jī)在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。這些半導(dǎo)體器件和電子產(chǎn)品一旦投入實(shí)際應(yīng)用,就可以暴露在端環(huán)境條件下,滿足苛刻的軍事和電信可靠性標(biāo)準(zhǔn)。

 

元器件測(cè)試用設(shè)備

元器件測(cè)試用設(shè)備

-85℃- 250℃納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)

-85℃- 250℃納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)

  現(xiàn)代超精M制造、加工、測(cè)量?jī)x器對(duì)工作環(huán)境提出了苛刻要求,尤其是以光刻機(jī)為代表的超大規(guī)模集成電路制造設(shè)備,其高集成度導(dǎo)致常規(guī)散熱方法遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足要求,同時(shí)投影物鏡的光刻質(zhì)量、運(yùn)動(dòng)部件的定位精度以及測(cè)量裝置的測(cè)量精度等都對(duì)環(huán)境參數(shù)的變化特別是溫度的變化尤為敏感。因此,環(huán)境參數(shù)尤其是溫度的控制成為一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)。

  納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)溫度控制系統(tǒng)是保證步進(jìn)掃描光刻機(jī)、微納坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、掃描探針顯微鏡等超精M儀器設(shè)備良好工作狀態(tài)的重要組成單元。納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī),以解決現(xiàn)有循環(huán)冷水機(jī)溫度控制精度低、調(diào)節(jié)時(shí)間長(zhǎng)、魯棒性差等問(wèn)題。

  納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)溫度控制系統(tǒng)總體方案,詳細(xì)設(shè)計(jì)計(jì)算了以半導(dǎo)體制冷片和電加熱管為核心元件的換熱執(zhí)行器結(jié)構(gòu)尺寸。同時(shí),在ANSYS仿真環(huán)境下,分別仿真分析了換熱結(jié)構(gòu)的變形量、流場(chǎng)(速度場(chǎng))及溫度場(chǎng)分布,驗(yàn)證了設(shè)計(jì)過(guò)程的合理性和正確性,為進(jìn)一步的優(yōu)化提供了方向,進(jìn)而完成了結(jié)構(gòu)參數(shù)的選取。

再次,針對(duì)納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)溫度控制系統(tǒng)非線性、時(shí)變、大時(shí)滯等特性,對(duì)高精度的溫度控制算法進(jìn)行了詳細(xì)設(shè)計(jì)。通過(guò)采用限環(huán)繼電辨識(shí)方法在線對(duì)PID控制參數(shù)進(jìn)行自整定,再結(jié)合經(jīng)典PID控制和模糊控制兩者的優(yōu)點(diǎn),完成了具有自整定功能的模糊PID控制器設(shè)計(jì),仿真表明模糊PID控制器具有超調(diào)量小、調(diào)節(jié)時(shí)間短、精度高等特點(diǎn)。

元器件測(cè)試用設(shè)備

 

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