簡要描述:半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試的典型應用:適合元器件測試用設備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 石油,能源,電子,汽車,電氣 |
適合元器件測試用設備
在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
無錫冠亞積探索和研究元件測試系統(tǒng),主要用于半導體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,適合各種測試要求,解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題,超高溫冷卻技術可以直接從300℃冷卻。
型號 | KRY-455 KRY-455W | KRY-475 KRY-475W | KRY-4A10 KRY-4A10W | KRY-4A15 KRY-4A15W | KRY-4A25 KRY-4A25W | KRY-4A38W | KRY-4A60W | |
溫度范圍 | -40℃~+100℃ | |||||||
控溫精度 | ±0.5℃ | |||||||
溫度反饋 | Pt100 | |||||||
溫度顯示 | 0.01k | |||||||
流量輸出 | 1~10L/min | 1~25L/min | 1~25L/min | 1~40L/min | 1~40L/min | 5~50L/min | 5~50L/min | |
關于流量說明 | / | 當溫度低于-30度時,大流量為25L/min | 當溫度低于-30度時,大流量為30L/min | |||||
流量控制精度 | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | |
壓力顯示 | 采用江森自控壓力傳感器,觸摸屏上顯示壓力,可進行壓力控制調節(jié) | |||||||
加熱功率 | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 10kW 選配15kW | 15kW 選配25kW | 25kW 選配38kW | 38kW 選配60kW | |
制冷量 | 100℃ | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 15kW | 25kW | 38kW | 60kW |
20℃ | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 15kW | 25kW | 38kW | 60kW | |
0℃ | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 15kW | 25kW | 38kW | 60kW | |
-20℃ | 2.8kW | 4.5kW | 6kW | 10kW | 16kW | 25kW | 35kW | |
-35℃ | 1.2kW | 1.8kW | 2.5kW | 4kW | 6.5kW | 10kW | 15kW | |
壓縮機 | 艾默生谷輪渦旋柔性壓縮機 | |||||||
膨脹閥 | 艾默生/丹佛斯熱力膨脹閥 | |||||||
油分離器 | 艾默生 | |||||||
干燥過濾器 | 艾默生/丹佛斯 | |||||||
蒸發(fā)器 | 丹佛斯/高力板式換熱器 | |||||||
輸入、顯示 | 7寸彩色觸摸屏西門子S7-1200 PLC控制器 | |||||||
程序編輯 | 可編制10條程序,每條程序可編制40段步驟 | |||||||
通信 | CAN通信總線 | |||||||
安全保護 | 具有自我診斷功能;冷凍機過載保護;高壓壓力開關,過載繼電器、熱保護裝置、低液位保護、高溫保護、傳感器故障保護等多種安全保障功能 | |||||||
是否為全密閉系統(tǒng) | 整個系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng),高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統(tǒng)在運行中不會因為高溫使壓力上升,低溫自動補充導熱介質。 | |||||||
制冷劑 | R404A/R507C | |||||||
接口尺寸 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | |
水冷型at25度 | 1100L/H | 1500L/H | 2000L/H | 2800L/H | 4500L/H | 7000L/H | 12000L/H | |
水冷冷凝器 | 帕麗斯/沈氏套管式換熱器 | |||||||
風冷型冷凝器 | 銅管鋁翅片換熱器(上出風形式) | |||||||
電源 380V50HZ | 12kW max | 15kW max | 20kW max | 29kW max | 42kW max | 58kW max | 84kW max | |
水冷尺寸cm | 55*95*175 | 55*95*175 | 55*95*175 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 | 145*205*205 | |
風冷尺寸cm | 55*95*175 | 55*95*175 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 | |||
重量 | 250kg | 280kg | 320kg | 360kg | 620kg | 890kg | 1300kg | |
選配 | 220V 60HZ三相 400V 50HZ三相 440V 60HZ三相 | |||||||
選配 | 溫度擴展到-40℃~+135℃ | |||||||
選配 | 更高精度控制溫度、流量、壓力 | |||||||
選配 | 自動加注防凍液系統(tǒng) | |||||||
選配 | 自動液體回收系統(tǒng) |
半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試
半導體模塊Chiller,芯片高低溫測試
芯片成品測試(Final Test,也稱終測),集成電路后道工序的劃片、鍵合、封裝及老化過程中都會損壞部分電路,所以在封裝、老化以后要按照測試規(guī)范對電路成品進行電路性能檢測,目的是挑選出合格的成品,根據(jù)器件性能的參數(shù)指標分,同時記錄各的器件數(shù)和各種參數(shù)的統(tǒng)計分布情況;根據(jù)這些數(shù)據(jù)和信息,質量管理部門監(jiān)督產品的質量,生產管理部門控制電路的生產。
IC測試是確保產品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié),在IC生產過程中起著舉足輕重的作用。IC測試是集成電路生產過程中的重要環(huán)節(jié),測試的主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能*實現(xiàn)設計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標,每一道測試都會產生一系列的測試數(shù)據(jù),由于測試程序通常是由一系列測試項目組成的,從各個方面對芯片進行充分檢測,不僅可以判斷芯片性能是否符合標準,是否可以進入市場,而且能夠從測試結果的詳細數(shù)據(jù)中充分、定量地反映出每顆芯片從結構、功能到電氣特性的各種指標。因此,對集成電路進行測試可有效提高芯片的成品率以及生產效率。