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芯片測試高低溫一體機,冷熱裝置廠家

簡要描述:芯片測試高低溫一體機,冷熱裝置廠家的典型應(yīng)用:
適用于電子元器件的溫度控制需求。 在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-45℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

  • 產(chǎn)品型號:TES-4525
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-12-31
  • 訪  問  量:567
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,制藥

芯片測試高低溫一體機,冷熱裝置廠家

主要用于半導(dǎo)體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-92℃~250℃,適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題,超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>元器件高低溫測試機,制冷加熱裝置廠家</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

芯片測試高低溫一體機,冷熱裝置廠家

  元器件高低溫測試機提醒,在電子元器件的研制階段。失效分折可糾正設(shè)計和研制中的錯誤,縮短研制周期;在電子器件的生產(chǎn),測試和試用階段,失效分析可找出電子元器件的失效原因和引起電子元件失效的責(zé)任方。根據(jù)失效分析結(jié)果,元器件生產(chǎn)廠改進器件的設(shè)計和生產(chǎn)工藝,元器件使用方改進電路板設(shè)汁,改進元器件和整機的測試,試驗條件及程序,甚至以此更換不合格的元器件供貨商。因而,失效分析對加快電子元器件的研制速度,提高器件和整機的成品率和可靠性有重要意義。

 

  芯片高低溫測試機電子元器件測試系統(tǒng)以其優(yōu)良的軟硬件性能和完善的服務(wù)在航天、航空、電子、郵電、半導(dǎo)體、核工業(yè)、兵器等行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。用戶單位包括從事整機研制和生產(chǎn)的研究所和企業(yè),包括從事半導(dǎo)體器件研制和生產(chǎn)的研究所和企業(yè),包括專業(yè)從事電子元器件測試篩選的測試中心,也包括一些外資公司和企業(yè)。因而創(chuàng)造了良好的經(jīng)濟效益和社會效益。

目前,無錫冠亞利用制冷加熱動態(tài)控溫系統(tǒng)還在針對電子元器件行業(yè)的測試工作不斷開發(fā)新的產(chǎn)品,為我國的電子元器件測試行業(yè)做出發(fā)展。

 

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>元器件高低溫測試機,制冷加熱裝置廠家</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

 

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