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電子半導體測試制冷加熱控溫系統(tǒng)

簡要描述:電子半導體測試制冷加熱控溫系統(tǒng)
電子測試熱系統(tǒng)在通過直流電時具有制冷功能,由于半導體材料具有可觀的熱電能量轉換性能特性,所以人們把熱電制冷稱為電子測試熱系統(tǒng)。電子測試熱系統(tǒng)可以通過優(yōu)化設計電子測試熱系統(tǒng)模塊,減小電子測試熱系統(tǒng)模塊的理想性能系數(shù)和實際性能系數(shù)間的差值,提高電子測試熱系統(tǒng)器的實際制冷性能。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質:生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-12-31
  • 訪  問  量:915
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞產(chǎn)地類別國產(chǎn)

電子半導體測試制冷加熱控溫系統(tǒng)

電子半導體測試制冷加熱控溫系統(tǒng)

電子半導體測試制冷加熱控溫系統(tǒng)

 

 

 型號TES-4525 / TES-4525W
溫度范圍-45℃~250℃
加熱功率2.5kW
制冷量250℃2.5kW
100℃2.5kW
20℃2.5kW
0℃1.8kW
-20℃0.85kW
-40℃0.25kW
導熱介質溫控精度±0.3℃
系統(tǒng)壓力顯示制冷系統(tǒng)壓力采用指針式壓力表實現(xiàn)(高壓、低壓)
循環(huán)系統(tǒng)壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上
控制器西門子PLC,模糊PID控制算法,具備串控制算法
溫度控制導熱介質出口溫度控制模式
外接溫度傳感器:(PT100或4~20mA或通信給定)控制模式(串控制)
可編程可編制10條程序,每條程序可編制45段步驟
通信協(xié)議以太網(wǎng)接口TCP/IP協(xié)議
設備內(nèi)部溫度反饋設備導熱介質出口溫度、介質溫度、制冷系統(tǒng)冷凝溫度、環(huán)境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度(水冷設備有)
外接入溫度反饋PT100或4~20mA或通信給定
串控制時導熱油出口溫度與外接溫度傳感器的溫度差可設定可控制
溫差控制功能設備進液口溫度與出液口溫度的溫度差值可設定可控制(保護系統(tǒng)安全)
密閉循環(huán)系統(tǒng)整個系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng),高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統(tǒng)在運行中不會因為高溫使壓力上升,低溫自動補充導熱介質。
加熱指系統(tǒng)大的加熱輸出功率(根據(jù)各型號)
加熱器有三重保護,獨立溫度限制器,確保加熱系統(tǒng)安全
功率大于10kW采用調(diào)壓器,加熱功率輸出控制采用4~20mA線性控制
制冷能力指在不同的溫度具備帶走熱量的能力(理想狀態(tài)下),實際工況需要考慮環(huán)境散熱,請適當放大,并且做好保溫措施。
循環(huán)泵流量、壓力
max
采用冠亞磁力驅動泵/德國品牌磁力驅動泵
20L/min
2.5bar
壓縮機法國泰康
蒸發(fā)器采用DANFOSS/高力板式換熱器
制冷附件丹佛斯/艾默生配件(干燥過濾器、油分離器、高低壓保護器、膨脹閥)
操作面板無錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏,溫度曲線顯示EXCEL 數(shù)據(jù)導出
安全防護具有自我診斷功能;相序斷相保護器、冷凍機過載保護;高壓壓力開關,過載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。
制冷劑R-404A / R507C
接口尺寸G1/2
外型尺寸(風)cm45*85*130
外型尺寸(水)cm45*85*130
風冷型采用銅管鋁翅片冷凝方式,上出風型式,冷凝風機采用德國EBM軸流風機
水冷型 W帶W型號為水冷型
水冷冷凝器套管式換熱器(帕麗斯/沈氏 )
冷卻水量 at 25℃0.6m3/h
電源4.5kW max 220V
電源可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相
外殼材質冷軋板噴塑 (標準顏色7035)
隔離防爆可定制隔離防爆(EXdIIBT4)
無錫冠亞防爆產(chǎn)品安裝許可證號:PCEC-2017-B025
正壓防爆可定制正壓防爆(EXPXdmbIICT4) 正壓系統(tǒng)必須是水冷設備
無錫冠亞防爆產(chǎn)品安裝許可證號:PCEC-2017-B025

 

集成電路芯片測試中芯片失效怎么應對?

  集成電路芯片測試是用于各種芯片、半導體、元器件測試中的,一旦芯片失效的話,測試工作就會停止,那么,集成電路芯片測試的失效用戶需要了解清楚比較好。

  集成電路芯片失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機理,并確認其失效原因,并提出改善設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現(xiàn),提高元器件的可靠性,失效分析是產(chǎn)品可靠性工程中一個重要組成部分。一般電子產(chǎn)品在集成電路芯片研發(fā)階段,失效分析可糾正設計和研發(fā)階段的錯誤,縮短研發(fā)周期,在產(chǎn)品生產(chǎn)、測試和使用時期,失效分析可找出元件的失效原因與引起元件失效的責任方,并根據(jù)失效分析結果,改進設計,并完善產(chǎn)品,提高整機的成品良率和可靠性有重要意義。

  對于集成電路芯片失效原因過程的診斷過程叫做失效分析,但是我們在進行失效分析的過程中,往往需要借助儀器設備,以及化學類手段進行分析,失效分析的主要內(nèi)容包括:明確分析對象,確認失效模式,判斷失效原因,研究失效機理,提出改善預防措施。

  現(xiàn)在科技發(fā)展迅速,集成電路芯片越來越小型化,復雜化,系統(tǒng)化,其他的功能越來越強大,集成度越來越高,體積越來越小,所以對于失效元件分析的要求越來越高,用于分析的失效的新技術,新方法,新設備越來越多,在實際的失效分析過程中,遇到的失效情況各不相同,可以根據(jù)失效分析的目的與實際,選擇合適的分析技術與方法,要做到模式準確,原因明確,機理清楚,措施得力,模擬再現(xiàn),舉一反三。

  集成電路芯片測試工作運行建議芯片失效的工作處理好比較好,避免一些不可抗力導致集成電路芯片測試不能合理的進行。(內(nèi)容來源網(wǎng)絡,如有侵權,請聯(lián)系刪除。)

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