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半導(dǎo)體電源芯片高低溫測試的制冷原理

 更新時(shí)間:2020-08-18 點(diǎn)擊量:1057

  半導(dǎo)體電源芯片高低溫測試是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)適合的測試設(shè)備, 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。

 <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

  制冷工作原理:高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個(gè)等溫過程和兩個(gè)絕熱過程組成,其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì),后制冷劑經(jīng)截流閥絕熱膨脹做功,這時(shí)制冷劑溫度降低,此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的。

  半導(dǎo)體電源芯片高低溫測試該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧男阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

半導(dǎo)體電源芯片高低溫測試是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域適合的測試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校、工廠、研位等單位。